विद्युतीय C&DF परीक्षण (capacitance and dissipation factor test)
उद्देश्य:
1. ट्रान्सफर्मर, केबल र मोटरहरू जस्ता उपकरणहरूमा विद्युतीय इन्सुलेशनको गुणस्तर र अवस्थाको मूल्याङ्कन गर्न।
2. अन्य परीक्षणहरूमा स्पष्ट नहुन सक्ने साना इन्सुलेशन त्रुटिहरू पत्ता लगाउन।
सिद्धान्त:
1. इन्सुलेशन प्रणालीको क्यापेसिटन्स (C) र अपव्यय कारक (DF) मापन गर्दछ।
2. क्षमताले विद्युतीय चार्ज भण्डारण गर्न इन्सुलेशनको क्षमतालाई संकेत गर्दछ।
3. डिसिपेशन कारक (जसलाई ट्यान डेल्टा वा पावर फ्याक्टर पनि भनिन्छ) इन्सुलेशन भित्रको ऊर्जा नोक्सान मापन गर्दछ।
प्रक्रिया
१. इन्सुलेशनमा कम-भोल्टेज एसी सिग्नल लागू हुन्छ।
2. परीक्षण सेटले क्षमता र अपव्यय कारक मापन गर्दछ।
3. परिणामहरू इन्सुलेशन अवस्था निर्धारण गर्न सन्दर्भ मानहरू वा ऐतिहासिक डेटासँग तुलना गरिन्छ।
व्याख्या:
1. बढेको क्षमता: इन्सुलेशनमा नमी वा प्रदूषण संकेत गर्न सक्छ।
2. बढेको अपव्यय कारक: बुढेसकालको अत्यधिक ताप, वा प्रदूषणको कारण डाइलेक्ट्रिक हानिको सुझाव दिन्छ।
विद्युत इन्सुलेशन प्रतिरोध परीक्षण
उद्देश्य:
1. चुहावटको प्रवाहको लागि इन्सुलेशन प्रणालीको प्रतिरोध मापन गर्न।
२. समग्र इन्सुलेशन गुणस्तरको मूल्याङ्कन गर्न र उच्च- प्रतिरोधात्मक त्रुटिहरू पत्ता लगाउन।
सिद्धान्त:
1. इन्सुलेशनमा उच्च DC भोल्टेज लागू गरिन्छ।
2. परीक्षण सेटले इन्सुलेशन मार्फत प्रवाहित चुहावट प्रवाहको मापन गर्दछ।
3. इन्सुलेशन प्रतिरोध ओमको नियम (R=V/I) प्रयोग गरेर गणना गरिन्छ।
प्रक्रिया:
1. परीक्षण अन्तर्गत उपकरणहरू पावर स्रोतहरूबाट अलग छन्।
2. कन्डक्टर र ग्राउन्ड बीच एक उच्च DC भोल्टेज लागू हुन्छ
3. चुहावट वर्तमान मापन गरिन्छ।
व्याख्या।
कम इन्सुलेशन प्रतिरोध: एक कमजोर वा बिग्रिएको इन्सुलेशन प्रणालीलाई संकेत गर्दछ, सम्भावित रूपमा नमी, प्रदूषण, वा शारीरिक क्षतिको कारण।